Die OakGate CD280-G5-Lösung von American überprüft die Leistung und Funktionalität von CXL 2.0-Speichergeräten und beschleunigt so deren Markteinführung.
Der Aufstieg von künstlicher Intelligenz (KI) und Big Data treibt einen Wandel hin zu heterogenem Computing voran, bei dem mehrere Prozessoren parallel arbeiten, um große Datenmengen zu verarbeiten.
Die offene Standardverbindung Compute Express Link (CXL), basierend auf PCI Express (PCIe) 5.0, ermöglicht eine schnelle Kommunikation mit geringer Latenz zwischen dem Host-Prozessor und Peripheriegeräten wie Beschleunigern, Speicherpuffern und „intelligenten“ E/A. Dadurch werden Speicherkapazität und Bandbreite erhöht.
© Teledyne LeCroy
Der Amerikaner Teledyne LeCroy hat gerade die Einführung der Validierungstestlösung OakGate CD280-G5 für CXL 2.0-Speichergeräte angekündigt. Es ermöglicht die Überprüfung der Leistung und Funktionalität von Geräten und beschleunigt so deren Markteinführung bei gleichzeitig hoher Zuverlässigkeit.
Der Hersteller hat auch mit Rechenzentrumsarchitekten sowie Speicher- und Computerherstellern zusammengearbeitet. Chipsätze eine Lösung zu entwerfen, die die von den Benutzern erwartete Leistung erfüllt. „Unsere Zusammenarbeit mit Teledyne LeCroy hat dazu beigetragen, das CXL-Compliance-Test-Ökosystem weiterzuentwickeln und außerdem unsere eigene CXL-Innovation und Bemühungen zur Bereitstellung des CZ120-Speichererweiterungsmoduls zu stärken“, sagte Siva Makineni, Vizepräsident von Microns Advanced Memory Solutions.
In Kombination mit der Endeavour-Validierungssoftware vereint der OakGate CD280-G5 eine breite Palette an Validierungs- und Visualisierungsfunktionen, wie z. B. Erkennung und Enumeration von CXL-Speichergeräten, Zugriff auf CXL- und PCIe-Registerbereiche, die Ausführung allgemeiner Speicherverkehrsmuster und Arbeitslasten sowie anpassbares CXL Befehle über das Passthrough-Tool, Leistungssteuerung und Seitenbandtests, Initiieren und Ausführen von CXL-Validierungstests und mehr.
Die Endeavour-Software profitiert außerdem von mehreren Verbesserungen, wie z. B. dem Testen von bis zu acht EDSFF (Enterprise and Datacenter Standard Form Factor) E.3- oder CEM (Card Electromechanical) CXL-Geräten, Spannungsmarge und Leistungs-/Seitenbandproblemen, Speicherinterleaving und zusätzlichem SPDM-Sicherheitsfluss , Protokollanalysator-Funktionalität und integrierte Testautomatisierung.
